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测量频率1mHz~300mHz的阻抗分析仪IM7580A
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测量频率1mHz~300mHz的阻抗分析仪IM7580A的详细资料
品牌:HIOKI
产地:JAPAN
供应商:深圳市银飞电子科技有限公司
HIOKI日置测量频率1mHz~300mHz的阻抗分析仪IM7580A产品介绍
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zui快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间:zui快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A的测试治具。
| 测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | zui快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,zui多进行16点的判定。
使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。
更多详细测试仪资料,可以在百度输入框内输入“1001718”后回车进入银飞查看。 该产品由深圳市银飞电子科技有限公司供应,洪;地址深圳市福田区华强北群星广场A座2217室。
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