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JOFRA RTC 156B 干体炉的详细资料

在工业温度计量领域,AMETEK JOFRA RTC156B干体炉以其卓越的温场控制精度与多场景适配能力,成为制药、半导体、冶金等行业的核心校准设备。作为RTC系列的高端型号,该仪器融合动态负载补偿、双区加热等关键技术,解决了传统干体炉在短支传感器校准中存在的温场不均、热量损失等痛点。其温度覆盖范围可低至-30℃(23℃环境下)、高达155℃,配合±0.04℃的超高精度(搭载STS200外置参考探头),能满足绝大多数工业温度传感器的校准需求。无论是卫生型短支探头的精准校准,还是多类型传感器的批量检测,RTC156B均以标准化流程与数据合规性,成为智能化校准体系的核心支撑。


关键技术参数与性能优势

RTC156B的性能优势源于其严苛的参数设计与创新技术集成。温度范围呈现环境适应性特征:在23℃环境下为-30℃~155℃,而环境温度升至40℃时最低温仍可达-15℃,满足不同工况需求。其核心精度指标尤为突出:搭配外置参考探头时精度达±0.04℃,内置探头精度±0.10℃,且稳定运行30分钟内的温度波动仅±0.005℃,径向开孔间的温度一致性更是达到0.01℃的行业顶尖水平。


类别

具体内容

核心温度性能

温度范围:-环境0°C时:-46155°C-51311°F-环境23°C时:-30155°C-22311°F-环境40°C时:-15155°C5311°F)精度:-内置探头:±0.10°C±0.18°F-配外置参考探头:±0.04°C±0.07°F12个月溯源周期)稳定性:±0.005°C(稳定15分钟后30分钟内)

温场一致性与技术

径向一致性:0.01°C0.02°F,不同开孔间)核心技术:1.双区加热系统:独立控制上下加热区,补偿上部热量损失,无需隔热即可校准充液式探头2.DLC动态负载补偿(专利申请中):实时监控套管内温场,动态补偿多传感器/大尺寸传感器的负载影响,屏幕可显示温场一致性状态

关键功能

1.智能参考探头:支持4线制RTD真值测量,内置芯片存储校准数据,即插即用2.工单化校准:JOFRACAL软件支持20个步进点自定义,可保存模板并离线调用,适配GMP认证需求3.同步控制:Sync继电器输出,稳定时触发辅助设备(30V/24mA负载)4.多接口扩展:标配USB、以太网,可选RS232,支持数据实时传输与报告生成5.适配性:160mm深度干井,多孔套管兼容多尺寸传感器,含卫生型传感器校准套件

校准能力

适配传感器:热电偶、2/3/4线制热电阻(RTD)、温度变送器、温度开关软件支持:JOFRACAL+AMETRIM双软件,可生成PDF/TXT报告,实时绘制温度曲线与误差趋势图全回路校准:支持现场传感器与变送器联动校准,减少分离误差

操作与维护

分辨率:用户可选1°/0.1°/0.01°/0.001°升降温速率:--3023°C4分钟,23155°C15分钟-15523°C12分钟,23-30°C25分钟物理规格:-干井深度:160mm,适配长探头校准-重量:轻量化设计(未公开具体值,标注便携易携)维护周期:每12个月检查参考探头校准状态,清洁套管杂质

适用场景

制药行业卫生型传感器校准(符合洁净无液污染要求)、实验室多传感器批量校准、现场全回路校验,尤其适配负载变化大的复杂校准场景(如多支探头同时校准)


升降温效率同样亮眼:从-30℃升至23℃仅需4分钟,23℃至155℃升温耗时15分钟;降温过程中,155℃至23℃仅需8分钟,而从23℃降至-30℃全程25分钟,配合10分钟快速稳定特性,大幅缩短校准周期。操作交互上,仪器支持0.001℃分辨率调节,可存储10组设备设置与20组自动步进测试数据,稳定状态通过屏幕符号直观提示,兼具专业性与易用性。


核心测试原理深度解析

(一)温场控制与动态补偿原理

RTC156B采用“双区加热+DLC动态负载补偿”协同技术,构建均匀稳定的温度场。双区加热系统通过独立控温模块调节干体炉上下区域温度,消除传统单区加热的轴向温差;而DLC技术则针对传感器插入导致的热量损失进行实时补偿——当被检传感器插入加热腔时,仪器通过外接参考传感器捕捉感温元件区域的温度变化,结合预设热传导模型动态调整加热功率,确保目标区域温度偏差控制在±0.005℃内。

对于短支传感器校准这一难点场景,仪器创新性地实现“温场跟随”功能:将外接参考传感器与被检传感器置于同一水平位置,即使短支传感器无法抵达腔底,仍可通过参考探头的精准测温与DLC补偿,抵消井口散热影响,使感温元件区域温场均匀性满足校准要求。这一原理突破解决了制药行业卫生型短支探头的校准难题,成为GMP合规认证的关键支撑。

(二)多参数校准测量机制

仪器集成电阻、电压、电流多维度测量模块,覆盖全类型温度传感器校准需求。针对热电阻(如Pt100、Cu50),采用四线制测量法消除导线电阻干扰,测量范围0~4000Ω,精度达±(0.002%Rdg+0.002%F.S.),在0℃标准点对Pt100的校准误差可控制在±0.008℃内。

热电偶校准则通过mV信号采集与冷端补偿实现:支持E、K、S等9种类型热电偶,测量范围±78mV,结合0~40℃冷端补偿(精度±0.3℃),在320℃对K型热电偶的校准精度达±0.11℃。对于温度变送器与开关,仪器提供24VDC回路供电,可直接测量0~24mA电流与0~12V电压,精度均为±(0.005%Rdg+0.01%F.S.),无需额外配套设备即可完成信号验证。

(三)智能化校准流程控制原理

JOFRACAL与AMETRIM软件构成的闭环系统,实现校准全流程自动化。操作人员通过JOFRACAL创建工单,预设20个温度步进点、保温时间与稳定判据(如波动≤±0.005℃持续5分钟),指令通过USB或网络传输至仪器后,设备自动执行升温、稳定、数据采集流程。

AMETRIM软件则负责数据全生命周期管理:实时采集温场参数、传感器信号与误差数据,生成温度变化曲线与误差趋势图;支持CNAS、GMP等多行业报告模板,自动导出加密PDF/Excel文件,本地可存储1000组以上校准数据,并通过USB、网络、SD卡实现多重备份,确保数据不可篡改与可追溯性。


行业应用场景与实践价值

(一)制药行业:卫生型传感器校准

在制药行业的发酵罐、冷藏库等场景,卫生型短支传感器因插入深度有限,传统校准易出现温场偏差。RTC156B搭配短支校准套件,通过外接参考传感器与被检探头的同位置测温,结合DLC补偿技术,精准控制感温区域温度,完全符合GMP对校准精度与流程标准化的要求。某药企应用数据显示,其对Pt100短支探头的三点校准(0℃、50℃、100℃)全程耗时仅45分钟,误差均控制在±0.02℃内,校准效率提升60%。

(二)半导体与冶金行业:高精度测温保障

半导体晶圆冷却系统的Pt100传感器需在-20℃~100℃区间高频校准,RTC156B的四线制电阻测量与快速温变能力,可实现每支传感器15分钟完成5点校准,误差≤±0.01℃,保障晶圆加工温度稳定性。冶金行业中,针对高炉K型热电偶的校准,仪器通过精准mV信号采集与冷端补偿,在300℃~155℃区间的测量误差仅±0.1℃,为高炉温控提供可靠依据。

(三)计量检测机构:标准化溯源

计量院所利用RTC156B的高稳定性与可追溯性,构建温度校准标准装置。其与DLC-155参考探头(-60℃~155℃)配套使用,按ITS-90温标完成校准,证书覆盖-45℃~155℃区间,可直接为企业提供量值溯源服务。仪器的自动步进与数据存储功能,使单日校准传感器数量从传统设备的20支提升至50支,且报告生成时间缩短至1分钟/份。


AMETEK JOFRA RTC156B干体炉通过DLC动态补偿、双区加热与智能化软件系统的深度融合,重新定义了中低温段干体校准的精度标准与效率边界。其±0.04℃的测量精度、10分钟快速稳定、全类型传感器适配能力,不仅解决了短支探头校准、多参数协同检测等行业痛点,更通过数据合规体系满足了医药、半导体等严苛领域的监管要求。作为工业4.0背景下的校准设备标杆,RTC156B推动温度计量从人工操作向数字化、标准化转型,为企业质量管控与效率提升提供了核心技术支撑,彰显了AMETEK在温度校准领域的技术领导力。

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