E-mail: service@1001718.com
![]()

同惠电子 TH2640A 精密电容测试仪
同惠电子TH2640A精密电容测试仪属于TH2640系列耐冲击阻抗测量设备,是面向无源元件、半导体、新材料检测场景开发的高精度多参数测试仪器,核心解决元器件容感
同惠电子 TH2640A 精密电容测试仪的详细资料
同惠电子TH2640A精密电容测试仪属于TH2640系列耐冲击阻抗测量设备,是面向无源元件、半导体、新材料检测场景开发的高精度多参数测试仪器,核心解决元器件容感阻参数、C-V特性、介电常数、磁导率精准测量需求,广泛覆盖电子制造产线分选、材料实验室研发、半导体器件性能验证等行业场景。同惠电子TH2640A搭载五端测试架构,最高支持20VAC/100mAAC大功率测试信号,设备内置20档标准LCR量程,基础测量精度可达0.05%,搭配10.1英寸触控屏与多模式扫描功能,兼顾高速测试与多维度数据分析。设备原生兼容SCPI、MODBUS通讯指令,配备LAN、USB、RS232多类工业接口,可无缝对接自动化测试产线;200V抗冲击硬件设计降低高压误操作带来的设备损耗,平衡测量精度、测试效率与设备耐用性,适配中小批量质检、大批量自动化分选、科研材料分析三类主流使用需求。
基础阻抗四参数测量原理
同惠电子TH2640A采用数字平衡阻抗测量架构,通过五端Kelvin测试回路分离激励端与检测端,消除测试线缆、夹具引线电阻带来的测量误差。仪器输出标准AC激励信号加载被测器件DUT,同步采集器件两端电压、回路电流相位与幅值数据,实时运算输出电容(Cp/Cs)、电感(Lp/Ls)、电阻(Rp/Rs)、阻抗Z、损耗D、品质因数Q等二十余项电参数,支持串联、并联两种等效模型自由切换,匹配不同容值、感值元器件标准计算逻辑。
三大核心测试功能通俗解析
多模式扫描测试同惠电子TH2640A包含点测、列表扫描、图形扫描三种模式:单点快速测量用于单件样品抽检;201点列表扫描可对频率、AC电压、电流三个变量分段设定参数,每点位独立配置平均次数与分选阈值,适配批量梯度变量检测;图形扫描支持1-4条参数轨迹同步绘制曲线,支持1/2/4分屏、线性/对数坐标切换,直观呈现器件C-F、C-V阻抗变化曲线,适合变容二极管、磁性材料特性研究。
10档Bin自动分选仪器内置比较器分选系统,单次测量可同时监控4项关键参数,自定义每档上下限容差,测量完成自动匹配对应Bin档位,面板PASS/FAIL指示灯同步输出开关量信号,搭配HANDLER接口直连自动化分拣机,完成元器件自动化分级筛选,替代人工记录判定,降低产线人为误差。
ALC恒定电平输出技术搭载自动电平控制ALC功能,分为额定值、恒定值两种信号模式:ALCOFF模式输出开路标准电压/短路标准电流;ALCON模式实时动态调节输出功率,保证被测器件两端电压、电流稳定等于设定值,避免小容值、高阻抗元器件测试时信号衰减,提升高低阻元件测量一致性。
耐冲击防护底层逻辑
同惠电子TH2640A硬件前端集成高压吸收防护电路,抗冲击电压上限200V,当产线误接入高压、器件反向放电时,防护回路快速泄放异常电压,保护内部测量采集芯片,减少仪器维修频次,适配车间复杂用电、高压器件测试工况。
核心整机参数
参数项目 | 同惠电子TH2640A标准规格 |
测试频率范围 | 100Hz~500kHz |
频率分辨率 | 1mHz~1Hz分级可调 |
基础测量精度 | 0.05% |
AC测试信号 | 0~20Vrms,50μA~100mArms |
输出阻抗 | 20Ω(±4%@1kHz) |
测试端结构 | 五端Kelvin测试 |
显示配置 | 10.1英寸1280×800电容触摸屏 |
LCR量程总数 | 20档自动/手动切换 |
最快测试速度 | 10.4ms(约100次/秒) |
扫描列表最大点数 | 201点 |
图形扫描轨迹 | 最多4条,四分屏显示 |
分选档位 | 10档Bin分选 |
抗冲击电压 | 200V |
整机尺寸 | 430(W)×177(H)×265(D)mm |
整机净重 | 11kg |
供电规格 | 100-120VAC/198-242VAC,47~63Hz,≥130VA |
内部存储 | 6GB非易失存储,保存测试方案、曲线数据 |
标配通讯接口清单
接口类型 | 配置状态 | 用途说明 |
RS232 | 标配 | 本地电脑串口通讯,基础数据读取 |
USBDEVICE | 标配 | USBTMC协议,连接PC上位机软件 |
USBHOST(2路) | 标配 | 外接U盘、鼠标、键盘,存储截图/测试文件 |
LAN以太网 | 标配 | 10/100M自适应,远程程控、产线组网 |
HANDLER | 标配 | 分选开关量输出,对接自动化分拣设备 |
外部DCI | 标配 | 外接直流偏置源,完成C-V特性测试 |
标配附件清单
三芯电源线、TH26010镀金短路校准板、TH26005D测试夹具、TH26011E带锁四端Kelvin测试线。
大功率宽范围测试信号,覆盖高低阻抗器件市面同频段多数电容测试仪最大输出电压不超过10V,同惠电子TH2640A支持20Vrms/100mAAC大功率激励,大电容、大功率电感、低阻变压器测试时信号充足,无需额外升压辅助设备,一套仪器覆盖无源全品类元件检测。
200V硬件抗冲击设计,降低车间使用损耗常规精密LCR仪器无高压防护,误操作接入高压易造成采集模块损坏,同惠电子TH2640A前端集成独立冲击吸收电路,200V瞬时高压不会损伤核心测量单元,适配工厂产线高频次、多人员操作场景,减少仪器停机维修成本。
多协议工业通讯,适配自动化产线集成同惠电子TH2640A原生支持SCPI、MODBUS两套主流工业指令集,同时配齐LAN、USB、RS232、HANDLER全套工业接口,无需额外加装转换模块即可对接PLC、自动分拣机、上位机数据采集系统,缩短自动化产线改造周期。
复合扫描功能兼顾量产与研发双重需求多数同类设备仅支持单一列表扫描或简单曲线绘制,TH2640A同时具备201点参数梯度扫描与四轨迹图形扫描,产线批量分选使用列表扫描快速分级,实验室材料研究使用图形扫描输出连续阻抗变化曲线,一台设备兼顾质检、研发两类岗位使用需求。
五端测试架构,高低频测量稳定性更佳采用五端Kelvin分离测试回路,对比传统四端仪器可抵消夹具接触阻抗、线缆分布电容干扰,在500kHz高频段、pF级微小电容测量时数据波动更小,介质损耗D、品质因数Q测量重复性更好。
大容量本地存储,数据免电脑实时留存内置6GB本地非易失存储器,可存储多套测试方案、扫描曲线、批量测量记录,现场抽检无需外接电脑即可保存数据,U盘一键导出报表与截图,适配无电脑工位离线检测场景。
无源电子元器件制造行业
陶瓷电容、薄膜电容、电解电容、功率电感、磁珠、电阻、变压器、压电器件、网络排阻排容出厂参数检测、来料抽检,通过TH2640A自动分选功能完成元器件容值、损耗分级,区分合格品、不良品。
半导体器件研发与测试
变容二极管C-V直流偏置特性扫描、LED驱动IC寄生电容电感参数分析、晶体管、MOS管内部寄生阻抗测试,搭配外部DCI直流偏置接口,完成半导体器件变压下阻抗变化规律验证。
新材料实验室检测
塑料、陶瓷介质材料介电常数与损耗角测量;铁氧体、非晶磁性材料磁导率、磁损耗分析;半导体基材导电率、高频阻抗特性评估,借助图形扫描输出完整材料频域特性曲线。
结构件与线束阻抗检测
PCB印制电路板走线阻抗、继电器触点接触电阻、开关导通损耗、电缆线材分布电容电感、软包电池极片交流阻抗评估,验证结构件交流电气性能稳定性。
高校、科研院所实验室
电子、材料、半导体专业教学实验、课题样品参数测试,多档位频率与电压可调,曲线可视化功能便于实验数据对比分析。
10.1英寸触控交互,操作门槛低同惠电子TH2640A搭载大尺寸电容触摸屏,参数设置、扫描曲线缩放、分选档位编辑全部触控完成,支持显示字体无极放大,车间远距离读数清晰;配备实体导航旋钮与功能快捷键,触控、按键双操作模式适配不同操作人员习惯。
标准化三步校准,保障测量精准度设备内置开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD三种校准程序,更换夹具、测试线后三分钟内完成全套校准,消除线缆、夹具带来的系统误差;支持1~255次测量平均,微弱信号检测时调高平均次数降低数据噪声。
灵活扫描参数复制与点位延时设置列表扫描界面提供参数批量复制功能,无需逐一点位重复输入频率、电压;每个扫描点位可独立设置测量延时,适配大容量电容充放电稳定后再采集数据,避免充电未完成造成数值偏差。
面板锁定功能,防止参数误改支持USB外设锁定前面板按键,自动化产线运行时锁定操作界面,杜绝操作人员误改动分选阈值、测试频率,保障批量测量标准统一。
轻量化整机布局,工位摆放灵活整机430×177×265mm台式尺寸,11kg重量单人可搬运,桌面、自动化机架均可安装,无需专用大型操作台;测试接口前置布局,夹具插拔、线缆连接操作便捷。
原厂售后体系
整机提供标准质保周期,核心测量模块享受原厂专项保修;设备出现故障可联系同惠电子各地办事处工程师上门检修,线上远程协助排查程控、参数设置、校准类问题。
免费提供电子版操作手册、SCPI程控指令手册、上位机配套软件,终身提供软件固件升级服务,新增测试功能、通讯协议无需额外付费。
可提供线下仪器操作培训、自动化产线集成技术支持,针对电容、半导体、新材料行业提供专属测试方案指导。
产品相关资质
同惠电子深耕阻抗测量仪器研发三十余年,拥有多项阻抗测量相关发明专利,TH2640系列仪器出厂前经过高低温、连续老化、电磁兼容全套检测,设备计量指标符合国内电子测量仪器通用计量规范,出具出厂校准报告,可用于第三方计量实验室校验溯源;产品通讯协议、硬件安全符合工业设备通用标准,适配国内各类电子制造、科研单位合规检测使用要求。
Q1:同惠电子TH2640A和TH2640B核心区别是什么?
A:两款仪器硬件架构、功能、接口完全一致,仅测试频率上限区分:TH2640A频率范围100Hz~500kHz,TH2640B拓展至100Hz~2MHz,客户根据样品测试最高频率选型,低频电容、磁性材料检测选择TH2640A即可满足需求。
Q2:同惠电子TH2640A能否搭配自动化分拣机使用?
A:可以,设备标配HANDLER分选输出接口,10档Bin档位测量完成后自动输出对应开关电平信号,直接对接分拣机PLC,搭配LAN通讯实时上传每一件元器件测量数据,实现全自动无人分选产线搭建。
Q3:测试微小pF级陶瓷电容时数据波动大如何解决?
A:第一执行全套开路、短路、负载校准;第二调高测量平均次数至30次以上;第三使用原厂TH26011E带屏蔽Kelvin测试线,缩短线缆长度;第四降低测试AC电压,减少线缆分布电容干扰。
Q4:同惠电子TH2640A是否支持外接直流偏置源做C-V测试?
A:设备标配外部DCI直流偏置接口,可外接直流偏置电源,搭配图形扫描功能自动采集不同直流偏压下电容变化曲线,满足变容二极管、MOS管等半导体器件C-V特性测试。
Q5:仪器内部存储的数据如何导出至电脑?
A:两种导出方式:1、插入U盘至USBHOST接口,在存储界面一键导出测试方案、曲线截图、批量测量记录;2、通过LAN/USBDEVICE连接上位机软件,远程读取仪器缓存内201点扫描数据。
同惠电子TH2640A精密电容测试仪依托成熟的五端阻抗测量技术、20V大功率输出与200V耐冲击硬件防护,平衡测量精度、测试效率与设备耐用性,一套设备覆盖无源元器件质检、半导体器件分析、新材料科研检测多类应用场景。丰富的工业通讯接口、多模式扫描分选功能,既满足实验室精细化特性研究,也适配大批量自动化电子制造产线使用。仪器出厂配套全套标准测试附件与完整技术文档,搭配原厂完善的售后技术支持,降低客户选型、使用、维护综合成本。若需评估同惠电子TH2640A是否匹配自身样品测试需求,可联系厂商技术人员获取样品实测、方案定制支持,根据检测频率、元器件类型、产线自动化程度提供针对性使用建议。文章来源于电能质量分析仪。
|
||||