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半导体器件C-V特性分析仪TH510系列概述

2024-11-29

TH510系列半导体器件C-V特性分析仪是一款由常州同惠电子设计生产的,针对半导体材料及功率器件进行分析的仪器。

 TH511.jpg

1、产品概述:

   仪器型号:TH510系列提供四个型号(TH511ETH511TH512TH513),分别支持±200V、±1500V、±3000V的漏极电压范围。

   应用领域:广泛应用于半导体功率器件(如二极管、三极管、MOSFET、IGBT等)的寄生电容测试及C-V特性分析,也适用于晶圆切割、液晶材料弹性常数分析以及电容元件的测试分析。

   设计特点:采用一体化集成设计,集成了LCR数字电桥、栅极电压源、漏极电压源、通道切换及上位机软件,操作简便,适用于生产线快速测试及自动化集成。

 

2、性能特点:

   一体化设计:将复杂的接线和繁琐的操作集成在支持电容式触摸的Linux系统内,体积小、效率高。

   多参数同屏显示:10.1英寸大屏可同屏显示四种寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg),以及等效电路图、分选结果等。

   多种测试方式:支持单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描三种测试方式,满足不同测试需求。

   高压测试能力:V DS 电压范围可达±3000V,满足大多数功率器件的测试需求。

   CV曲线扫描分析:支持C-V特性曲线分析,可实现对数、线性两种扫描方式,并可同时显示多条曲线。

   独特技术解决测试难题:如Crss Plus功能解决高频下Crss负值问题,高压击穿保护技术防止仪器损坏等。

 

3、安全与保护:

   Interlock安全锁功能:增加高压防护墙,确保高压下操作环境的安全(仅TH513型号具备)。

   接触检查功能:采用四端测量法,及时发现接触不良点,保障测试结果的准确性。

   快速通断测试:直接判断器件的导通性能,排除损坏器件,节省测试时间。

 

4、定制化与智能化:

   支持定制化:仪器所有接口、指令集均为开放设计,客户可自行编程集成或定制功能。

   智能固件升级:通过系统设置界面或文件管理界面进行固件升级,无需返厂,提高维护效率。

 

5、技术参数:

   测试频率:范围为1kHz至500kHz(TH511E/TH511)或1kHz至2MHz(TH512/TH513),精度高达0.01%。

   V GS 和V DS 电压范围:V GS 可达±40V,V DS 可达±200V/±1500V/±3000V,满足不同功率器件的测试需求。

   测量参数:包括Ciss、Coss、Crss、Rg等寄生参数,以及LCR功能(仅限部分型号)。

 

6、附件与接口:

   随机附件:包括电源线、测试夹具、连接电缆等。

   选配件:提供200V/1500V通道板、图形扫描软件等选配件。

   接口丰富:支持RS232、USB HOST、LAN、GPIB、RS485等多种接口,便于与各种设备连接。

 

7、操作简便性:

   图形化设置界面:单测设置界面和列表扫描设置界面均采用图形化设计,功能参数一目了然。

   一键测试:支持一键测试单管器件和模组器件,无需频繁切换测试脚位和参数设置,提高测试效率。

 

TH510系列半导体器件C-V特性分析仪以其高度集成化、智能化的设计,以及丰富的测试功能和安全保护措施,为半导体功率器件的测试和分析提供了高效、可靠的解决方案。

文章来源变压器综合测试仪

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