同惠 TH2853系列 射频LCR测试仪的详细资料

同惠TH2853系列射频LCR测试仪覆盖1MHz-5GHz全频段，采用射频IV测试法，±0.3%典型测量精度，支持点测、列表、曲线扫描，适配5G通信、半导体、磁性元件产线与实验室高频LCR参数检测。随着5G规模化商用、射频半导体与无线充电器件量产需求持续增长，行业对1MHz~5GHz频段无源元件、半导体芯片高频阻抗参数检测设备需求持续提升。市面多数进口高频测试设备采购、运维成本偏高，基础款国产仪器存在频段上限不足、测试精度波动等选型痛点。同惠电子推出同惠TH2853系列射频LCR测试仪，面向产线批量检测、基础射频实验室研发场景打造标准化高频LCR测量方案，全系列覆盖1MHz至5GHz多档频率规格，依托自研射频IV测量技术稳定实现±0.3%典型测量精度，兼顾测试速度与设备性价比，配备全类型外设通讯接口适配自动化产线，简化高频元器件L、C、R、Q、D等参数测试流程，为射频行业提供本土化高频阻抗测量解决方案。

产品简介

核心定位

同惠TH2853系列射频LCR测试仪是同惠电子推出的经济型高频阻抗测量设备，定位产线批量检测、高校基础射频实验、中小研发企业元器件常规性能验证，主打标准化LCR参数快速测量，弱化高端复杂材料分析功能，平衡设备采购成本与基础射频测试需求，可完成1MHz~5GHz频段无源、半导体元器件基础阻抗参数采集，区别于同系列TH2852射频阻抗分析仪，聚焦简洁高效的常规射频LCR检测场景。

适用行业

无线通信制造、车载射频电子、半导体封装测试、磁性元器件生产、PCB射频基板加工、NFC无线充电线圈、晶振/压电器件检测、高校电子通信实验室。

核心基础优势

宽频段覆盖：全系列5档机型覆盖1MHz~500MHz/1GHz/2GHz/3.5GHz/5GHz，匹配不同射频频段测试需求；

稳定测量精度：典型基础精度±0.3%，适配元器件出厂质检标准；

高速测量效率：最快0.4ms/单点测量，支持批量列表扫描，缩短产线单颗器件检测时长；

全接口拓展：标配RS232、USB、LAN、GPIB、HANDLER等接口，可对接自动化分选机；

可视化触控操作：10.1英寸电容触摸屏，1280×800高清分辨率，PC、移动端配套上位机软件同步数据查看。

产品核心功能与技术原理

核心测量功能

同惠TH2853系列射频LCR测试仪搭载三类标准化测量模式，覆盖绝大多数常规检测场景：

点测模式：固定单一频率，实时读取元件L、C、R、阻抗、相位、品质因数Q、损耗D等瞬时参数，适合来料单点抽检；

列表扫描模式：自定义最多1601组频率点位，一键完成多频点参数采集，自动存储多组数据，适配器件多频段性能抽检；

曲线扫描模式：连续扫频生成阻抗、相位变化曲线，直观判断元件谐振频率、高频衰减特性，无需复杂分析操作即可完成器件宽带性能评估。

配套分选功能支持LCR模式10档判定、曲线扫描分通道独立分选，产线可直接设置上下限阈值，自动区分合格/不良品，减少人工记录误差。

底层测量技术原理

TH2853采用行业成熟射频IV测试法，区别于传统低频交流电桥：设备同步输出射频激励电压、同步采集被测元件两端电压与回路电流，通过内置算法实时换算阻抗、导纳、LCR基础参数，无需复杂平衡校准流程。高频段下传统电桥易受PCB、夹具寄生电容、引线电感干扰产生相位偏移，射频IV法直接采集原始电信号运算，降低GHz频段寄生参数带来的测量误差，保障5GHz高频区间数据一致性，操作门槛更低，新手无需复杂校准培训即可正常使用。

配套基础测量参数

AC测量参数：|Z|、|Y|、相位θ、R、X、G、B、L、C、损耗D、品质因数Q、交流电压/电流；DC测量参数：直流电压Vdc、直流电流Idc、直流电阻Rdc；设备支持AC信号源-41dBm~+1dBm可调，DC偏置0V~±40V、偏置电流0~±100mA，适配变容二极管、带直流偏置线圈类器件测试。

详细技术参数表

全系列型号频率规格对照表

整机通用技术参数

TH2853与TH2852功能区分简表

产品核心优势（市面同类差异化亮点）

国产5GHz频段经济型设备，降低采购成本市面同频段进口射频LCR设备采购、配套夹具预算较高，同惠TH2853系列射频LCR测试仪实现1MHz~5GHz全频段国产化覆盖，设备定价更适配中小产线、高校实验室预算，基础测量指标对标国际主流同类基础款机型，无需高额预算即可完成高频元器件常规检测。

射频IV法简化高频校准，降低使用门槛多数高频测试设备需频繁多步骤平衡校准，TH2853依托射频IV测量架构，搭配自动电气长度校准功能，外置测试头可完成晶圆、PCB高频精准测量，单次校准后长时间稳定测量，减少产线操作人员校准工作量。

多接口兼容自动化产线，适配批量分选整机标配HANDLER、GPIB、LAN工业通讯接口，兼容主流自动化测试分选机，扫描曲线可单独设置良品判定阈值，批量器件检测完成后自动输出OK/NG信号，实现无人值守产线检测，解决人工逐件记录效率低、误判率高的痛点。

宽阻抗测量区间，兼顾高低阻元器件测量范围覆盖120mΩ低阻功率线圈至60kΩ高阻陶瓷电容，无线充电线圈、磁珠、高压陶瓷电容、射频芯片寄生参数均可完整覆盖，无需更换多台设备切换检测高低阻抗器件。

操作轻量化，新手快速上手取消专业级复杂分析模块，界面简化为点测、列表、曲线三大基础模式，触控大屏可视化操作，配套图文版快速操作手册，无射频测试经验操作人员短期即可独立完成元器件检测，降低企业人员培训成本。

产品适用场景

无源射频元件检测

各类射频电容、功率电感、PCB贴片电感、NFC/RFID感应线圈、无线充电线圈、晶振、压电器件、变压器、磁芯磁珠、高频电阻出厂阻抗、谐振特性质检；

半导体器件测试

LED驱动IC寄生参数采集、变容二极管C-VDC直流偏置特性测试、射频晶体管、芯片封装寄生LCR参数评估；

结构与传输元件评估

射频PCB线路、高频继电器、信号开关、同轴电缆阻抗损耗检测；

实验室基础研发

通信专业高校教学实验、小型研发企业射频电路前期器件选型验证、元器件批次一致性对比测试；

消费电子产线质检

手机射频前端元件、车载雷达线圈、助听器音圈、小型电机线圈批量快速分选检测。

操作与使用优势

可视化触控交互10.1英寸大尺寸电容触摸屏，支持多指缩放扫频曲线，测量参数分栏直观展示，可外接HDMI/VGA显示器投屏，多人同步查看测试数据，适配实验室教学、产线多人质检场景；

多端数据导出与存储USBHost接口直插U盘存储扫描曲线、多频点列表数据，LAN接口连接电脑上位机软件，PC端批量导出CSV格式测试报表，可对接企业质检数据库归档；

灵活测试速度调节5档测量速度自由切换：高速模式0.4ms/点适配产线大批量快速检测；高精度650ms档位用于研发精准数据采集，兼顾效率与测量精度需求；

外置测试头拓展测试场景测试头外置设计，搭配配套探针夹具可完成晶圆、微小PCB贴片元件近距离高精度测量，自动电气长度校准消除引线损耗，提升微小元器件5GHz高频测量稳定性；

标准化SCPI指令集兼容通用SCPI程控指令，研发团队可自主编写自动化测试脚本，搭配PLC、工控机搭建全自动射频测试工位，适配定制化产线改造需求。

售后保障与产品资质

原厂售后政策

整机标准质保周期1年，整机核心测量模块非人为损坏免费维修更换；

购机享专属福利：设备到货起2年内可享受1次原厂专业校准服务，校准数据出具可溯源校准报告，满足科研结题、第三方检测审核要求；

全国多地设立技术服务网点，线上远程技术支持7×12小时响应，线下工程师上门调试、操作培训；

配套完整技术资料：原厂操作手册、SCPI程控指令手册、夹具选型指南免费提供。

产品合规资质

整机通过电子测量仪器通用安全检测，符合工业实验室、产线计量检测使用标准；设备出厂每台经过全频段精度校验，附带出厂原始检测数据报告；支持第三方计量机构年度校准，测量数据具备合规溯源性。

配套选购配件

可搭配射频探针夹具、磁性材料测试工装、介质基板测试治具、各类射频测试电缆、自动化HANDLER连接线同步采购。

常见问题FAQ

Q1：同惠TH2853系列射频LCR测试仪和TH2852该怎么选？

A1：若仅做元器件常规LCR批量质检、基础教学实验，不需要史密斯圆图、等效电路拟合、介电/磁导率材料分析，优先选择同惠TH2853系列射频LCR测试仪，采购成本更低；若需要射频匹配设计、材料高频特性深度表征、高精度精细频点扫描，建议选择TH2852射频阻抗分析仪。

Q2：TH2853-500最高测试到5GHz，可以测试毫米波器件吗？

A2：设备覆盖1MHz~5GHz频段，适配HF、VHF、UHF、C波段射频元器件；毫米波频段（高于6GHz）器件测量需选用更高频段网络分析仪，TH2853适合5GSub-6GHz射频元件检测。

Q3：设备能否搭配自动化分选机使用？

A3：可以，整机标配HANDLER接口，内置多档分选阈值设置功能，曲线扫描模式每条曲线可独立设置OK/NG判定区间，可直接对接主流自动化元器件分选设备，搭建全自动检测产线。

Q4：测量前需要预热多久？频繁开关机影响精度吗？

A4：标准预热稳定时间30分钟，预热完成后全频段测量精度稳定；短时间频繁开关机无需重复完整预热，停机超过2小时建议重新预热，保障±0.3%典型测量精度。

Q5：TH2853支持直流偏置测试二极管、线圈吗？

A5：支持，DC偏置电压0~±40V、偏置电流0~±100mA连续可调，可完成变容二极管C-V特性、带直流供电射频线圈阻抗参数测试。

Q6：测试数据怎么导出到电脑做报表？

A6：两种方式：1、U盘插入USBHost口直接存储曲线与列表数据；2、LAN网线连接电脑，使用原厂上位机软件实时采集数据，导出CSV表格用于质检报表归档。

TH2853 系列射频 LCR 测试仪依托成熟射频 IV 测量架构，完成 1MHz-5GHz 频段常规元器件阻抗参数标准化测量，精简冗余专业分析功能，在基础射频检测场景中兼顾精度、速度与易用性。完整的通讯接口、分段分选能力、可拓展外置测试头设计，能够匹配产线批量质检与实验室基础验证两类核心使用需求。整机参数指标、运行稳定性与配套校准服务，也可满足日常元器件性能比对、批次一致性筛查、教学实验等常规测试工作，为 1-5GHz 区间基础射频 LCR 测量提供标准化、可落地的国产设备解决方案。文章来源于电能质量分析仪。